二手 SEMICS Opus II #9380526 待售

SEMICS Opus II是一種進步的、高性能的prober設備，用於像半導體和MEMS這樣的批量生產高精度設備。它是一個經濟高效、基於PCI的測試和探測系統,旨在降低成本,同時提高速度和準確性。該探頭的核心特點是其交流/直流銳化探頭和波長掃描技術。Opus II能夠精確檢測線寬到0.1 μ m,並自動對準其探頭。該裝置采用獨特的高分辨率光學對準機，利用兩個攝像頭。這使得prober能夠識別和定位精度為5 μ m或更低的設備陣列特征。此外，這種光學對準工具允許在螺旋槳和器件基板之間有很小的間隙，從而允許非常精確的探測。集成在資產中的AC/DC尖銳探針技術允許最大探測深度為5 μ m,精度高達1 μ m。Prober的光學對齊模型還提供了樣本模式的精細分割，以檢測甚至最小的特征。這樣可以進行精確的探測,從而確保高產量的設備生產過程。SEMICS Opus II設備的一個關鍵特點是高速,它配備了一個高功率嵌入式處理器,每秒可執行高達1.5億個DSP操作。此速度允許prober提供快速的數據采集,掃描速率高達100 kHz。然後可以使用集成軟件導出和分析系統獲取的數據，以進一步優化探測過程。該設備提供多種I/O選項,包括四個USB端口、HDMI、千兆以太網、RS 232和以太網,以及16個數字信號處理通道。這使機器非常通用,提供多種連接選項,使其適合各種應用程序。此外,Opus II還為許多最流行的操作系統提供直接支持,從而可以集成到各種工業環境中。最後,SEMICS Opus II prober工具是一種經濟高效的高速測試和探測解決方案,它提供了一系列的功能,使其適合廣泛的應用。此資產非常適合生產高精度設備,提供對樣本模式的精細分割以檢測最小的特征。此外,該型號的集成I/O選項和廣泛的連接解決方案使其成為一種用途廣泛且功能強大的支持設備。