二手 SEMICS Opus II #9383808 待售

SEMICS Opus II是一種用於半導體生產線的prober。它旨在快速、準確和精確地創建設備,並對其進行多層處理。Prober是一個全自動系統，使用接觸掃描探針顯微鏡、先進成像系統等多種工具，以及微探針、電化學電位探針等機器。這些工具允許進行各種各樣的檢查、分析和行業標準測試。Opus II prober提供了滿足特定生產要求的特定功能。它提供了晶片與探測階段的自動定位和精確對準、機器人晶片處理和晶片可移動載荷。機器人晶片處理系統在封閉的環境中運行，允許晶片卡盤和掃描探頭之間移動。接觸掃描探針顯微鏡采用多種先進成像技術，提供22納米分辨率和2.5納米垂直圖像分辨率。SEMICS Opus II還利用一個可伸縮的探頭尖端耦合到一個專門的校準裝置來精確測量表面電位。這允許對材料和/或設備進行無損檢測。此外,prober還能夠自動分析存儲的圖像,以識別和表征組件或缺陷。自動化機器還能進行電阻、電流、電壓、IMD、電流泄漏、高壓、熱分析等電路測量。這種先進的螺旋槳設計用於制造和生產半導體零件。Opus II為元件和材料的高速測試提供了最佳平臺。它提供全面的自動化晶片加載、處理和分析功能,可以跟上苛刻的生產量。Prober的設計采用了通用的功能集,能夠處理和測量生產中的組件。它能夠分析存儲的圖像並執行自動測量,為元件和材料的高速測試提供了一個絕佳的平臺。