二手 SEMICS Opus II #9407027 待售

SEMICS Opus II是一款用於測試和檢查封裝設備（如內存和邏輯集成電路）以及其他具有平坦表面和高長寬比連接器的設備的prober。它是一種自動化的晶圓探測器,能夠快速、準確、可靠地進行樣品檢查。該探頭包括四個位置掃描階段和一個精確的彎曲引導階段，用於樣品的尺寸不超過200毫米，高度不超過500米。它具有高速運動控制,能夠實現高達20 µm的定位精度,從而實現快速的樣品對準和定位。Prober利用先進的視覺技術和自動晶圓對準，從而能夠更快、更準確地驗證樣品。Opus II prober還具有多種探測解決方案,包括接觸、無手套或紅外探測功能。此外，該裝置還配備了可調光學顯微鏡和成像系統，提供高分辨率成像能力，能夠檢測微小的缺陷。此外,Prober還具有內置的自我診斷功能,可監視操作參數並提醒用戶註意任何問題。這樣可以確保可靠的性能和快速的故障排除。此外,該系統還包括用於簡化坐標編程的SEMICS專有軟件,以及功能強大的編輯例程,以及對數據分析和導出的支持。為了極致安全,SEMICS Opus II prober提供了多種安全升級,包括用戶友好的訪問端口、自動緊急關閉開關和ESD保護。