二手 SEMICS Opus II #9407030 待售

Semiconductor SEMICS Opus II Prober是一個功能強大的半導體高級探測和測試系統。它旨在測試晶片級和封裝設備以及晶體管和二極管。該系統可提高電路性能、提高產量和節省成本。Prober具有多種電子元件和功能，包括受控溫度環境、高精度探頭、探頭放置微操縱器、可編程半導體測試參數和嵌入式測試軟件。其溫度範圍為-50至+120攝氏度，精確分辨率為0.01攝氏度。Prober的高級探頭精度為0.03 μ m,支持高達1GHz的高頻探測。此外，它還配備了世界領先的操縱系統，以保證在半導體測試過程中準確、可重復地放置探針。Prober還提供了廣泛的自動化測試功能，包括晶圓模式識別、故障的3D映射、全電壓和電流報告、完整的表面掃描以及基於懸臂的高速測試。它的靈活性和準確性使得即使是最復雜的設計也能得到有效的測試。此外，Prober可以用適當的最小和最大模模延遲序列對4、5、6和8串基板進行序列處理。此外,它還可以編程多級別測試策略,每個測試級別中最多有兩個子級別。總體而言，半導體Opus II Prober是半導體測試和探測的有效解決方案。它具有高度可靠、準確和高效的特點,可降低產品成本並確保高產量。Prober的自動化測試能力、先進探頭、柔性溫度範圍和可編程測試參數的結合，使其成為任何半導體測試和探測需求的完美選擇。