二手 SEMICS Opus II #9407037 待售

SEMICS Opus II是由sMicron開發的半導體分析prober。它是一種高端、量產的解決方案，旨在精確測量現代生產線中半導體晶片和芯片的電性能。其先進的設計使其成為市場上最可靠、最準確的探針之一。Opus II由各種組件組成，使其能夠精確測量各種電氣特性。其核心部件包括晶圓處理設備、晶圓探測系統、光學單元和對準機。晶片處理工具設計用於在探測站和光學資產之間安全移動晶片。該模型還具有先進的精密傳感和控制能力，以確保精確放置晶圓。晶圓探測設備提供了一貫的高精度。它具有先進的Z級和X-Y級,探測力範圍從500 μ N到10N,探測力精度為0.1 μ N。Z級還配備了一套可互換的觸點，以適應各種不同的探測技術。光學系統是SEMICS Opus II prober的核心。它具有兩個數字顯微鏡，可以獨立使用或一起使用，以詳細捕捉晶圓表面的圖像。該單元還使用集成掃描儀檢測異常點缺陷和檢查。Opus II的對準機也被設計為提供高精度。它使用自動對準工具來精確確定晶圓相對於其探測表面的對準。此資產最多可存儲10個對齊方式,非常適合高效執行多個測量。SEMICS Opus II prober是提供精確電氣測量的先進模型。它具有直觀、用戶友好的界面,使操作員能夠在生產環境中快速準確地測量和分析晶片。該處理器的設計是為了滿足在大容量半導體制造業務中實施的需要。