二手 SEMICS Opus II #9407038 待售

SEMICS Opus II是一種用於表征微電子元件的電氣參數和機械穩定性的高性能儀器。它結合了先進的精密級、壓電電機和支持連接的技術以及可擴展和靈活的探針卡設計。Opus II prober能夠在高達25 µm的運動範圍內進行高精度±定位,以及在更大的運動範圍內進行高速運動。它還允許同時進行電氣和機械測試,同時減少測試時間。Prober配備了強大、快速的控制系統，允許操作員輕松配置、編程和控制prober，讓操作員在測試過程中完全控制所有參數。此外,該探頭還具有廣泛的先進特性,如保證探頭和針腳冷卻的連續空氣流動,以及確保與被測裝置準確可靠接觸的懸掛式探頭卡設計。SEMICS Opus II還具有通用的應用程序庫和可編程自動化控制功能，以進一步提高測試速度和準確性。該庫允許用戶針對特定的測試要求開發自定義程序,從而實現手動控制和自動測試操作。對於其他信息,Opus II包括各種數字可視化、處理和分析工具,包括信號監控、信號分析和日誌記錄,這些工具使用戶可以查看其測試過程的有效性。這有助於確保在整個測試過程中準確監控和控制所有測試條件。因此,SEMICS可以保證正在測試的設備可靠、可靠且符合所有規格。總體而言,SEMICS Opus II Prober是一種經濟高效的方法,可以一次測試和表征多個組件,從而減輕人員和設備的負擔。此外,它的可編程性和可配置性有助於最大限度地提高效率並最大程度地減少設備停機時間,從而使企業能夠降低總體成本。