二手 SEMICS Opus II #9407040 待售

SEMICS Opus II
製造商
SEMICS
模型
Opus II
ID: 9407040
Wafer prober.
SEMICS Opus II,由SEMICS Co.Ltd,是一種專業且高度精確的綜合計量工具,用於檢查和分析所有類型的曲面。它旨在滿足汽車、航空航天等研究和工業部門的需求。Opus II設備包括兩個組件;主儀器和包含傳感器模塊和附件的附件套件。主儀器由一個安裝有單獨傳感器模塊的基本單元組成。該模塊包含一個光學測量單元以及各種用於精確測量的功率放大器和傳感器。它裝有用於控制其操作和數據處理的軟件。SEMICS Opus II可用於表面表征、表面整理、磨損分析、汙染分析和腐蝕分析。金屬和非金屬的表面檢查,可以很容易地使用該系統。它能夠測量微觀尺寸的表面特征。高速實施有助於快速調查大面積區域,否則需要進行多次測試測量。此外,還可以使用自動特征識別來定義感興趣的曲面特征。為了表征表面,Opus II使用了一系列測量參數,如表面粗糙度、表面衍射、表面浮雕、局部高度均勻性、局部斜率、波長和空間頻率。使用機載優化和分析儀軟件,該設備非常精確,具有極好的可重復性和可重復性。此外,SEMICS Opus II旨在實現最大的靈活性和可升級性。傳感器類型可以輕松切換。該儀器可配備各種可選附件,如實時圖像拓寬和平滑功能、用於測量表面變形和模擬的3D和Mat跟蹤、用於聚焦和受限測量的放大功能以及用於詳細溫度分析的高精度溫度計。總之,Opus II是一種用途廣泛但功能強大且可靠的表面檢查和分析機器。其令人印象深刻的一系列功能使其成為所有類型計量應用程序的理想選擇。
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