二手 SEMICS Opus II #9407041 待售

SEMICS Opus II是由SEMICS GmbH生產的多用途、多通道表面分析prober。它設計用於掃描電子顯微鏡、俄歇電子光譜、X射線光電子光譜、離子束映射和深度剖析等廣泛的表面分析應用。Opus II提供了一個先進、用戶友好的多通道平臺,適合任何研究或生產環境。SEMICS Opus II具有模塊化設計，允許用戶根據所需的應用程序向平臺添加不同的分析組件。Opus II的主要成分包括可控制的氣態氣流，用於表面暴露，容納不同樣本量的樣本級，以及連接不同探針的多個通道。該系統可以獨立操作,也可以遠程控制。SEMICS Opus II能夠高精度地對曲面和接口執行高分辨率的調查。利用三維（3D）圖像重建技術，可以從掃描電子顯微鏡（SEM）、超微切片（ultramicrotome）、掃描隧道顯微鏡（STM）等不同探針獲取高分辨率圖像。這使用戶能夠輕松快速地掃描3D樣本並分析收集到的數據。除了3D成像，Opus II還有廣泛的分析探針可供選擇。這些包括俄歇電子光譜（AES）、X射線光電子光譜（XPS）、粒子誘導X射線發射（PIXE）、二次離子質譜（SIMs）等等。這些探針旨在為用戶提供對樣品曲面的透徹和詳細的分析。SEMICS Opus II系統的控制器是一個直觀且易於使用的軟件程序。它使用戶能夠配置和控制平臺的多個分析通道,以及創建自定義分析協議。該軟件還包括解釋和報告所收集數據的工具。Opus II是一種可靠且用途廣泛的表面分析工具,非常適合任何範圍的分析應用。從基本的表面表征到先進的生產和研究應用，它為用戶提供了一致可靠的最高質量的結果。