二手 SEMICS Opus II #9407044 待售

SEMICS Opus II是專門為大批量生產和工程開發測試半導體器件而設計的prober。該設備特別適合於晶圓形式的參數特性測試和測量，能夠以極具成本效益的外形尺寸提供極高的探測精度。Opus II的功能列表以其高速、多站點的prober開始,能夠在四個不同的站點上同時執行多達8個並行觸點,每個站點都可以跟蹤高達20K的數據參數以進行引腳級別的計量。系統的樣品處理單元使用基於盒式盒式磁帶,可容納多達600個尺寸從3「到8」的晶圓。Prober還支持手動和自動加載,使其非常適合生產、工程和研發應用。SEMICS Opus II還具有完全集成的晶圓處理和測試站，具有高精度測量機。此工具具有高分辨率的大格式成像子系統,可快速檢測測試區域,並使測試站點和prober聯系點準確對齊。Opus II還具有25個站點的步進電機,可確保平滑、可重復的接觸以及受控的電氣負載和測試幾何形狀。SEMICS Opus II也非常適合分析晶片中的參數特性，因為它具有一整套參數測試，如脈沖IV測試、HFSIV測試和參數公差測量。該資產還支持多參數測量，為用戶提供半導體器件性能的全面概述。Opus II還具有先進的用戶友好型GUI,可輕松導航復雜的測試環境,並可快速導航至所需的測試和測量。此外，該模型還提供了先進的實時統計過程控制以及一套可定制的審查和統計報告。在設備性能方面,SEMICS Opus II設計用於2GHz的可靠性和高速吞吐量以及高達53MB/s的數據傳輸率。當與多個站點和高引腳計數一起使用時,該設備能夠每小時管理多達10000個測試晶片。Opus II是大批量生產、工程開發和半導體器件測試的首要推動者。SEMICS Opus II結合了可靠、高速的性能和全面的功能集,為快速可靠地測試半導體器件提供了經濟高效的解決方案。