二手 SEMICS Opus II #9407045 待售

SEMICS Opus II是用於晶圓探頭和測量應用的多功能、光學控制的prober。它具有先進的光學控制系統，能夠進行極其精確和可重復的探測，公差範圍可達0.1微米。Prober配備了自動插槽識別的5軸機械臂和高速、3-D電動舞臺等一系列高端部件。這樣可以提高晶圓探測、測試和測量操作的穩定性、準確性和速度。此外，prober利用先進的視覺系統，以確保可重復、可靠的探測結果，具有很高的準確性。Opus II的軟件套件允許廣泛的操作，包括探測點的匹配、間隙校準、探測位置的調整以及高級圖形顯示功能。SEMICS Opus II的用戶能夠對自己的探測模式進行編程，並可以使用預先配置的用戶友好系統來管理他們的探測。它還具有溫度控制外殼,可進行更一致的測量,以及簡潔、簡潔的設計,便於探頭定位。Prober能夠檢測晶片上最優秀的特性，使其成為半導體制造和其他精度、重復性和精度至關重要的應用的理想選擇。適用於處理多種不同的基板，包括液晶、薄膜盤式驅動器、矽芯片和電氣元件。這使得Opus II成為一種用途極為廣泛的工具,能夠幫助在制造現代半導體器件的整個過程中促進廣泛的過程。