二手 SEMICS Opus II #9407046 待售

SEMICS Opus II是一款先進的Prober,它提供了一種高效、經濟高效的IC芯片診斷、調試和表征方法。它是參與IC芯片開發和制造的工程師的重要工具。Opus II prober由基礎機、prober head和智能prober卡組成。基機是一種高速、溫度控制的計算機，運行高級軟件來控制prober和管理數據收集。Prober head are designed to transfer and locating chips at every position in its field of view, and takes track of tested pins of all chips.智能prober卡允許在prober頭上的任何位置發送和感應多個信號。SEMICS Opus II prober設計為具有高精度和重復性的探測。它具有0.04 µm的XY分辨率和0.2µm的Z分辨率，使亞微米探測最小的集成電路互連成為可能。高度自動化的過程需要最小的設置,並且能夠同時處理多個芯片並以每秒500個以上的位置進行探測。Opus II prober的實時反饋消除了探測IC（集成電路）參數的任何猜測。其深入的表征和分析功能為工程師提供了有關芯片性能的即時反饋。它復雜的內置算法使工程師能夠識別任何異常並診斷根本原因。此外，它的測試數據收集特性提供了對芯片穩定性的深入洞察，允許通過更好的數據質量進行早期設計優化。SEMICS Opus II prober使用簡單,並有出色的客戶支持和培訓支持。它的模塊化設計使得它成為一個可定制的工具，可以適應半導體公司的特定需求，為他們節省時間和金錢。總體而言,Opus II prober提供了一個可靠、方便且經濟實惠的解決方案來測試和表征IC芯片。