二手 SEMICS Opus II #9407049 待售

SEMICS Opus II是一款尖端的prober and wafer分類處理設備，旨在滿足並超過當今晶圓測試和高精度探測排序要求的高標準。它是對包括QFP、PLCC、SOIC、LCC、BGA和其他類型的內部安裝設備在內的各種半導體封裝進行高度精確和完整測試的理想系統。它旨在滿足最高水平的晶圓完整性和產量,並提供靈活性,以適應廣泛的客戶需求。Opus II結合了高速、高精度的工業機器人手臂和先進的視覺技術，確保了最高水平的準確性和可用性。一個獨特的視覺單元由一個嵌入式攝像機和兩個高靈敏度光學傳感器組成，用來確定它正在探測的每個晶圓包的確切位置。機器還考慮到晶圓包裝位置、尺寸和形狀的細微變化，以確保探頭放置的準確性。SEMICS Opus II也非常靈活,可為用戶提供可擴展的模塊化配置。它可以配置為與各種數字控制器一起使用,並直接連接到嵌入式計算機。它還具有多種數字交換機、LED狀態顯示以及用戶可選擇的探測和排序方法。此外,它還支持一系列全面的編程語言,包括Visual BASIC,此外還支持十幾種專門的命令和選項,以增強工具性能和操作。Opus II資產的設計具有許多獨特的功能,使其能夠超越其他類似系統。機器人手臂設計具有集成視覺模型和全自動對準能力，以確保最大精度和最高產量。此外，它還有一個空氣軸承支撐設備，可以減少機器的負載和振動，使其能夠以更高的速度和精度更精確地運行。此外,可編程配方功能提供了靈活性,以適應廣泛的客戶需求和第三方應用程序。SEMICS Opus II是可用於晶圓級探測和排序的最先進、最全面的系統之一。其強大的特點，先進的視覺技術和獨特的空氣軸承支撐系統為用戶提供了卓越的準確性和可用性。Opus II為客戶提供其要求最苛刻的晶圓級測試和探測應用所需的性能和可靠性。