二手 SEMICS Opus II #9407051 待售

SEMICS Opus II是為商用半導體晶圓探測應用而設計的prober。它是一種自動化的、完全可編程的設備,可用於任何設備結構或封裝的電氣和機械測試。Opus II能夠以低至0.3微米的分辨率進行接觸和非接觸探測。它可用於探測、故障排除和設備表征,以及晶圓級電氣測試。SEMICS Opus II的主要部件包括一個prober控制單元、一個自動探頭、一個高分辨率顯示單元和一組外圍儀器。Prober控制單元充當系統的大腦，負責提供電源、控制探針和執行程序命令。它通過靈活的高速通信和控制電纜連接到探測器。自動探頭設計用於移動和定位探頭尖端,使其與被測設備或特征接觸。探頭具有很高的柔韌性,可以編程為在所有軸上移動。它由基於微處理器的運動控制單元驅動。顯示單元包含高分辨率彩色顯示，用於實時顯示測試結果。周邊儀器包括顯微鏡、幹涉儀、計量探針、激光探測器和高頻測試設備。Opus II使用在prober控制單元上運行的專有軟件包。該軟件包含一個指令集，旨在允許用戶快速定義、測試和報告晶圓探測過程。該軟件使用戶能夠創建自定義探測器並分析序列、導入/導出數據,並提供通過Internet遠程訪問和操作SEMICS Opus II的功能。Opus II由精密元件組成,設計得非常堅固可靠。該設備在1級2級危險地點獲得安全操作認證,包括方便用戶的安全功能,例如端口鎖,以防止意外進入機械設備。這確保了其操作員的安全。SEMICS Opus II是商業和研究應用的理想載體。它結合了精度、魯棒性、靈活性和用戶友好的特性，是晶圓測試和探測的理想選擇。