二手 SEMICS Opus II #9407052 待售

SEMICS Opus II
製造商
SEMICS
模型
Opus II
ID: 9407052
Wafer prober.
SEMICS Opus II是晶圓測試和質量分析的探索者。它在半導體工業中用於在制造過程之前、期間和之後探測和測試小型設備。這提供了有關其生產和設計的有用反饋,支持更準確的質量控制,消除不正確的產品,以及更好地優化生產過程。Opus II是一種高度通用的prober,能夠進行多站點晶圓探測和測試,以及具有實時溫度感測、直流和射頻測量以及其他各種配置測試和測量的4D晶圓映射。SEMICS Opus II具有多達56個階段的晶圓映射,可以對每個晶圓位置進行詳細分析而無需任何運動,與傳統方法相比大大減少了測量時間。Opus II還配備了先進的自動化,如自動校準和測試程序創建。Prober可以連接到與AI技術集成的模塊SEMICS inspector。這使測試人員能夠快速識別測試結果的質量及其與預期結果的偏差。SEMICS Opus II還配置了與計量系統的兼容性,允許進行各種晶圓測量,如臨界維度、數據記錄和綁定。此外,其先進的模具對齊和模式對齊能力適用於一系列的測量任務。Opus II配備了符合人體工程學設計的人機界面,以清晰的圖標和圖形提供直觀和用戶友好的操作。通過這種方法,用戶可以輕松控制和配置各種組件以滿足其測試要求。此外,系統還設計了手動操作覆蓋,允許在需要時完全控制測試過程。簡而言之,SEMICS Opus II是一種高性能可靠的prober,適用於生產過程中的多晶圓測試和質量分析。憑借其先進的自動化、符合人體工程學的設計以及與計量軟件的兼容性,它可用於廣泛的任務,為高效晶圓測試和質量控制提供了絕佳的解決方案。
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