二手 SEMICS Opus II #9407055 待售

SEMICS Opus II是一種可重新配置、用途廣泛且先進的探測和表征設備,旨在對各種樣品進行精確測量。該系統提供全面的探測單元技術，如垂直掃描、接觸成像和物理計量。該機配有電荷耦合器件（CCD）和CMOS傳感器，用於圖像捕獲、圖像識別和分辨率分析。其他功能包括可動態調節的級、可旋轉的X-Y-Z級、用於對象操作的自動化工具和用於控制多個探針尖端的多路復用器。Opus II對於接觸和非接觸測量都具有很高的準確性。它提供了廣泛的標準和可定制的探測功能，包括推進剖面儀、AFM、力曲線傳感、剪切力顯微鏡、電掃描和機械接觸模式探測。該資產具有測量各種物理特性的能力，包括表面地形（接觸和非接觸AFM）、機械特性（力-距離曲線）、電性能（電容和電阻率）以及摩擦和微壓痕等其他特性。模型還提供高級分析功能，如CoF測量、表面粗糙度計算和統計。它還提供了一個軟件平臺，用於復雜的數據管理和分析，包括自動化數據監測和數據分析。SEMICS Opus II非常適合廣泛的應用，從基礎研究和教育目的到過程降解評估和故障分析。這種設備非常適合研究硬質表面和生物材料的實驗室，以及那些需要接觸計量和無損檢測的實驗室。