二手 SEMICS Opus II #9407057 待售

SEMICS Opus II是由SEMICS（Samplers and Electron Microscopy Instruments Corporation）設計開發的prober。主要用於半導體器件探測應用。Opus II prober旨在提供精確的設備探測和準確的測試結果。它具有很大的工作區、符合人體工程學和節省空間的外形尺寸，以及具有大量測試算法的高級軟件包。SEMICS Opus II中的工作區為設備探測和測試提供了充足的空間，主設備或晶圓的最大空間為1000 x 200 mm。多用途運動階段，包括雙軸臂和探頭定位系統，提供精確的裝置操縱和定位。探頭支架的快速釋放特性使探頭可以輕松高效地更換,而不必停止測試周期。在外形規格上，Opus II以符合人體工程學形狀的小設計為特色，適合緊湊位置。它的低調也將幹擾和系統損壞的可能性降至最低。此外,USB型端口可確保安全高效地傳輸測試結果和分析數據。最後，安全接地系統通過消除靜電放電或電氣短路的風險，確保人員安全。SEMICS Opus II中的軟件由一套廣泛的測試和分析算法組成。它具有測試設備操作和測量關鍵參數的內置功能，如電氣性能、熱響應、可靠性和噪聲水平。它還包括設備文件的自動加載和掃描、探針數據的3D成像和顯示以及測試結果的圖形可視化的例程。綜上所述，Opus II是為半導體測試應用而設計開發的一款功能強大的prober。它具有較大的工作區域、符合人體工程學的設計以及具有多種測試和分析算法的高級軟件包。因此，它是一種高度通用的prober，適用於廣泛的探測應用。