二手 SEMICS Opus II #9407059 待售

SEMICS Opus II是一款高性能、多功能的prober，設計用於對包括半導體、IC封裝和圖像傳感器應用在內的基板進行高通量、高精度的探測。Opus II平臺為各種基板（包括3D和100 mm晶圓比例基板）提供可靠且可重復的結果。SEMICS Opus II具有倒置設計，允許高水平的基板可訪問性和易於操作。OpusII Prober憑借其獲得專利的SHM調制控制技術,確保了基材加工的高可重復性、準確性和效率。Prober配備了多種探針，包括橫向和垂直的SCM探針、MEMS探針、IC芯片探針和IC封裝探針，在測試基板時提供了更大的靈活性。Prober還兼容常見的測試軟件程序，兼容行業標準。為了確保可靠的結果，SEMICS Opus II prober包含了許多內置的安全功能。其空氣軸承運動控制系統允許平穩、精確的運動傳遞，消除了測試時基板意外損壞的風險。集成的6軸動態對準系統進一步提高了結果的準確性和可重復性，prober的剛性框架最大限度地減少了振動和熱漂移，從而提高了性能。此外,prober還具有一個用戶友好的界面,可以更輕松地訪問所有功能。它直觀的顯示和控制使操作員易於監視、控制和調整測試參數。Opus II還包括全面的數據捕獲和跟蹤功能，允許用戶快速查看和分析結果。SEMICS Opus II prober非常適合各種測試要求,提供可靠、準確和可重復的性能。它強大的設計、內置的安全功能、易於操作和全面的數據跟蹤功能,使其成為滿足任何半導體測試要求的理想選擇。