二手 SEMICS Opus II #9407063 待售

SEMICS Opus II
製造商
SEMICS
模型
Opus II
ID: 9407063
Wafer prober.
SEMICS Opus II是用於電氣測試和探測應用的多功能prober。設計用於制造、設備調試和故障分析。Opus II能夠快速、準確地訪問引腳,從而提高了測試結果的可追蹤性,縮短了調試時間。它可以處理各種樣本量,可以用在任何基板上,從簡單的板子到更復雜的裝配。SEMICS Opus II的核心組成部分是其整合室。這提供了一個封閉的環境,並配備了真空發生器,使得測試低噪聲水平的組件或射頻信號等敏感設備成為可能。這是測試和調試周期短的組件的一個很好的功能。Prober配備了可以高達600kHz的速度移動的雙集成多指頭。雙指頭與微探針插座兼容,使Opus II成為探測高針數基板的可行解決方案。Prober還支持自動檢查系統,帶有嵌入式CCD單元,可以識別、定位和測量基板上的所有組件。例如,它可以檢查尺寸測量、高度、位置和裂縫。SEMICS Opus II有24種不同的尖端形狀,使得測試基板元件的線性和矩陣陣列成為可能。由於直觀的OOS軟件可用於根據您的需求調整Prober,因此Prober易於使用。該軟件還可以對設置和測試操作的自動序列進行編程,從而實現準確且可重復的測試。Opus II是一種高度可靠的prober,可用於各種探測和電氣測試應用。內置腔室確保所有測試都在低背景噪聲環境下進行,而雙指頭允許對基板進行膨脹探測。集成檢測機和直觀的OOS軟件使SEMICS Opus II操作簡單,效率極高。
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