二手 SEMICS Opus II #9407065 待售

SEMICS Opus II是一款prober-tester，為先進的嵌入式半導體內存設備提供高吞吐量、全自動制造測試解決方案。它被設計為直接與質量測試環境接口，允許它作為Product-In-Wafer （PIW）或Fab-in-Fab （FIF）生產流程的一部分串聯使用。Opus II平臺以SEMICS先進的基於Kontron的計算體系結構為基礎,其模塊化設計方法允許為各種半導體制造測試和應用創建專門的配置。憑借雙核2雙核CPU, SEMICS Opus II具有足夠的功能和能力,可為用戶提供可靠而強大的解決方案,用於全自動測試臺操作。Opus II測試臺具有多種功能，如具有高精度自動噴嘴的探針以及在線測量和可編程自動化。這允許用戶快速準確地測試設備，以及執行復雜的測試例程和提供單獨的零件級測試數據。此外，SEMICS Opus II prober-tester還附有直觀的用戶界面，設計方便快捷的操作。它既可用於晶圓分選和表征，也可用於最終設備測試，使其成為大型和小型生產運行的絕佳選擇。Opus II還具有對多臺設備進行並行測試的能力，從而提高了生產吞吐量，減少了每臺設備的時間。此外,SEMICS Opus II具有集成的實時缺陷管理系統,使用戶能夠檢測和管理他們在測試中發現的任何可能存在缺陷的半導體設備。這為他們提供了快速可靠的設備性能反饋,使他們能夠做出明智的決策並在必要時采取糾正措施。總體而言,Opus II prober-tester是一個功能強大且可靠的測試平臺,它提供了一套全面的功能和高級功能,使其成為半導體制造測試應用的理想選擇。