二手 SEMICS Opus II #9407067 待售

SEMICS Opus II
製造商
SEMICS
模型
Opus II
ID: 9407067
Wafer prober.
SEMICS Opus II是一個自動化的prober,設計用於測試廣泛的電子設備。Prober具有極高的精度、速度和可重復性,使其在性能和成本效益方面成為業界領先的探針之一。Prober能夠以高達150微米/秒的速度探測,位置精度高達10微米,使其成為高速測試和生產應用的理想工具。Prober配備了一系列傳感器、執行器和數據采集系統,使其能夠自動化測試過程並收集準確可靠的數據。它獲得專利的機械級使它能夠在探測多個位置時快速安全地覆蓋大面積。Prober還具有一系列用於控制測試過程和收集信息的高級自動功能,如圖像處理和數據分析,以及用戶友好的圖形用戶界面。Opus II prober能夠執行各種探測和測試任務,從精細間距探測到組件級和板級測量。Prober能夠同時探測和測試多個引腳、護墊和接觸點,同時有多達8,000個接觸點用於探測、測試和成像應用。SEMICS Opus II還提供了廣泛的特定於用例的附件和附件,如多位置和高分辨率相機、探頭、力傳感器,甚至晶圓級。這些附件和附件可以連接到prober,以提供更多的功能,進一步增加可以進行的測試範圍。Prober非常可靠,使用壽命長,並提供了一系列功能和自定義選項,以確保它滿足特定的要求和應用程序。該專家還得到一個由高技能專業人員組成的團隊的支持,他們可以提供指導、技術支持和持續維護服務。因此,Opus II是用於測試各種電子設備的出色自動化處理器。
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