二手 SEMICS Opus III SH #293804328 待售
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單擊可縮放
ID: 293804328
晶圓大小: 8"-12"
優質的: 2019
Prober, 8"-12"
Previously docked to WINTEST WTS-577 Tester
Direct docking
Ambient to hot temperature
CE Certified
No interface
Manipulator for Wintest tester
2019 vintage.
SEMICS Opus III SH是為半導體測試和高級研究應用而設計的尖端prober設備。這種高性能的prober系統提供精確的控制和測量能力，對於評估半導體器件的性能和可靠性至關重要。Opus III SH模型是SEMICS Opus系列的一部分，以探測技術的卓越精度、速度和靈活性著稱。SEMICS Opus III SH prober單元的核心是其先進的探測機制，它允許與被測半導體器件（DUT）高度精確和可重復的接觸。機器具有多自由度的電動舞臺，包括X、Y和Z平移，以及theta旋轉。這使探頭能夠以微米級精度定位探頭尖端,從而確保與DUT的粘合墊或測試點的最佳接觸。Opus III SH prober工具的關鍵特性之一是其高速探測能力,這對於測試功能日益復雜且數據速率更高的現代半導體器件至關重要。資產配備了先進的控制算法和運動反饋系統,能夠在各種設備類型和測試條件下進行快速可靠的探測。這種高速探測能力對於測試信號完整性和定時至關重要的高頻設備，如射頻和微波組件特別有用。除了探測速度外，SEMICS Opus III SH prober模型還提供了出色的測量精度和可重復性。設備配有高分辨率位置編碼器和先進的校準程序，確保精確的探頭對準和接觸力控制。這種精度水平對於表征器件性能參數（例如阻抗、電容和泄漏電流）具有可信度和可靠性至關重要。Opus III SH prober系統的另一個重要特點是探測靈活性和適應性。該單元支持多種探針卡配置,包括單探針、多探針和懸臂式探針,以適應各種DUT大小和布局。此外,prober與各種探測技術（如垂直、水平和角度探測）兼容,以解決不同的測試要求和挑戰。SEMICS Opus III SH prober machine也是為了便於使用和集成到半導體測試環境中而設計的。該工具具有用戶友好的圖形界面,使操作員能夠輕松編程測試序列、設置探測配置以及實時監控測試結果。Prober還配備了先進的自動化功能，如機器人晶片裝卸，以簡化測試過程，提高整體生產率。總而言之,Opus III SH是一項最先進的支持資產,為半導體測試和研究應用提供卓越的性能、準確性和靈活性。SEMICS Opus III SH Prober模型具有高速探測能力、精確的測量精度、探測靈活性和用戶友好的界面,為半導體制造商和研究人員提供了他們所需的工具,以便有效地評估其設備的性能和可靠性。
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