二手 SEMICS Opus III SH #9408057 待售

SEMICS Opus III SH是一個用途廣泛的prober設備，設計用於測試和測量晶圓和模具。該系統由兩個核心組成：一個電容掃描頭和OpusIII SH prober單元。電容式掃描頭是一種機器人裝置，它以光柵模式掃描晶圓或模具，以檢測接觸點的方向、位置和分布。掃描數據被送入SEMICS Opus III SH prober，該prober配有高分辨率圖像傳感器和各種校準測試選項，如自動和手動調整、高智能晶片處理和對準、全溫控制等。Opus III SH prober的測試功能允許快速、準確地測試和探測當前市場上的各種設備,從無源組件到高級集成電路和微處理器。這些功能包括設備的自動分類和對準、高速激光掃描以及適當的3D讀數。機床的精確度和精確度由廣泛的刀具控制選項進一步提升,例如精確的0.001"校準、獨特的測量點、"力距離"讀數和自動視覺定位。資產的動態性能允許自動測試和準確的動態讀數,以及更高容量的測試協議。SEMICS Opus III SH是測試和測量敏感元件的優越選擇，例如MEMS和能量敏感產品。特別設計的頭部和單元具有先進的減振技術，以及全面的安全特性，包括自動關閉，以確保安全、高效的操作。這種先進的prober模型是最大限度地提高生產效率和最小化停機時間的理想選擇。其直觀的用戶界面使得操作速度快、直觀，多功能性、可擴展性和定制性使其成為各種項目和工業環境的絕佳選擇。