二手 SEMICS OPUS III SL #9152235 待售
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單擊可縮放
ID: 9152235
晶圓大小: 8"-12"
優質的: 2013
Flat type hot prober, 8"-12"
First linear stage system
High accuracy / High performance
Cassette map with camera
GUI based on Windows
Soft contact: Low "K" device
Easy maintenance
VNC Support
Probe mark inspection
Main body:
System I/F: GPIB
Foup, 12"
Hot chuck, 12"
OCR Unit: SEMICS
Stage:
Card changer: Auto card changer: 350 mm
Head plate: Top head plate with auto tilt
Align camera:
Macro camera
Micro camera
Loader:
Arm: Arm 1, 2
Rotation unit: 360° Turn table
Elevator unit: 330 mm
Stroke AC servo motor
Wafer recognition unit: Camera
Fixed tray: Tray 1, 2
Inspection tray: Tray 1
Computer:
CPU: Pentium 4.2 GHz
Storage / Memory: 80 G HDD / 2G
Monitor: Touch screen, 15"
Operating system: Windows XP
Basic function:
PMI
PTPA
PTMA
PTPO
Needle polish
OCR
Manipulator:
Type: Hinge manipulator
Basic specification:
X, Y Stage:
Overall accuracy: ±1.5 μm
Probing area:
X: ±170 mm
Y: ±165 mm
Max speed: 300 mm/sec
Index time: 160 mm/sec / 10 mm
Resolution: 0.035 μm
Z Stage:
Withstand load: 300 kgf
Control accuracy: ±1 μm
Resolution: 0.18 μm
Full stroke: 30 mm
Speed: 50 mm/sec
Θ Axis:
Rotation range: ± 6º
Accuracy: ± 0.0002º
Resolution: 0.0025 μm
Chuck:
Planarity: 10 μm
Temp range: Ambient ~ +150°C
Temp accuracy: ≤ 100°C: 0.5°C
Air / Vacuum: External diameter tub: Φ 6 mm, 1 Line
Interface kit: ND3
Power:
Input power: 200~240 VAC
1 Phase (3 Wire)
Frequency: 50/60 Hz
Current: 25A
Air: 0.5 Mpa, 100 liter/min
Vacuum: -70Kpa ~ -100Kpa, 20 liter/min
2013 vintage.
SEMICS OPUS III SL是專門為測試PCB、MCM和IC上的互連而設計的prober。它具有超低質量、低慣性探頭的高精度探頭,並具有獨特的多棘輪探頭組件,可與樣品進行可靠和可重復的接觸。它還具有定制設計的低噪聲、低溫、低振動掃描級,可用於更全面的探測解決方案。OPUS III SL適用於各種應用,包括PCB測試、單個元件的探測、表面安裝組件測試、晶圓測試、IC封裝測試和封裝檢查。該系統具有高度精確的探測功能,可與樣品進行可靠且可重復的接觸。設計了低質量、低慣性探頭，以優化短路和開路探測。具有大X和Y行程範圍和多個棘輪組件的靈活掃描階段,可以對樣品進行準確、可重復的探測。Prober旨在快速掃描大面積區域,並具有用戶友好界面和直觀的圖形用戶界面,以及用於自動化的內置腳本功能。SEMICS OPUS III SL支持廣泛的電氣探測技術，如電阻測量、電容測量、電流源測量和功率測量。它還具有降低接觸彈跳、低溫掃描和振動補償等系統級容錯功能。可選的高分辨率攝像頭可對樣品進行快速、準確和可重復的光學檢查。OPUS III SL具有可配置的硬件，可以升級以滿足客戶的特定需求。它還支持測試夾具、探針卡、適配器、長凳等各種客戶配件。它還擁有全面的機械和電氣安全系統，用於在測試期間防止短路、過壓和過流情況。SEMICS OPUS III SL是完成廣泛探測解決方案的理想工具。對於任何快速或復雜的測試設置,它都是一種高度精確、可靠、可重復且經濟高效的方法。OPUS III SL具有多種功能和用戶友好的界面,是尋求從其探測項目中獲得最大收益的專業人員的完美工具。
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