二手 SEMICS Opus III #293610401 待售

SEMICS Opus III是一種專為高級測試而設計的prober，如晶圓探測、SAW設備探測和新的封裝探針測試。它是用於電路、功能和生產級別測試的經濟高效且高性能的解決方案。Opus III是支持多個SAW設備包的無損檢測平臺，包括T-LIC、LGA、BGA和WLCSP。它采用輕巧的模塊化設計,便於安裝和配置。此prober可與現有裝配工作站和計算機結合使用,從而實現更快、更高效的探測。此外，通用的prober可以被定制，以適應任何項目的具體需求。Prober配備了直觀的用戶友好界面,便於導航不同的測試選項。包含的軟件能夠創建自定義測試和存儲結果,並能夠以易於訪問和有組織的方式分析從測試中收集的數據。SEMICS Opus III還擁有較高的測試精度和可重復性，以及低噪聲性能。它的接觸探針可以深入PCB和晶圓設計，就像手動探針工具一樣，提供更高的精度水平。此外，探針提示可以快速輕松地改變，使得整體測試過程更快、更高效。總之,Opus III是一個動態的prober解決方案,對於許多不同的應用程序而言,它是一個可靠、經濟高效且易於使用的選項。可以高效地完成復雜的測試任務,同時確保測試的準確性和可重復性。無論是用於內聯還是獨立設置，SEMICS Opus III都是功能強大且可定制的探針測試工具。