二手 SEMICS Opus III #293631659 待售

SEMICS Opus III是一種測試半導體晶片和器件的載體。它是一個高度可配置的系統,具有許多功能,非常適合測試大容量、大規模的半導體工藝。它具有獨特的前瞻性數據采集系統,使其能夠在測試晶片屬性時快速檢測到晶片上的錯誤和缺陷。該機器是一個掃描電子顯微鏡（SEM）鏈接各種探針。這些探針可以在實時和靜態測量中測量樣品的電氣、光學和其他特性。Opus III可靠、準確、對多種缺陷模式敏感。它可以用於基本測試和高級測試,確保在整個制造過程中保持質量保證。Prober可以編程為生成晶圓映射以進行缺陷分析。它還配備了一個粒子計數器，用於檢測和識別樣品表面存在的各種粒子。這有助於確定晶片的最終質量並檢測晶片上可能存在的汙染物。SEMICS Opus III也具有模式識別的能力，使它能夠識別晶圓上存在的不同缺陷模式。此功能有助於快速檢測缺陷的不同變化,從而能夠快速準確地檢查樣品。再者，機器有幾個信號捕獲通道，允許信號並行記錄，減少了完成一個測試周期所需的時間。Opus III的能力在設備制造和包裝等眾多應用中得到了測試。其性能一貫可靠，確保了生產過程中的最大性能和質量控制。它還與許多流行的行業標準兼容，包括J-STD-001（Semiconductor Devices Standard），這使得它成為要求苛刻的測試條件的理想選擇。