二手 SEMICS Opus III #293644079 待售

SEMICS Opus III是用於晶圓表征、模具分選和缺陷分析應用的綜合prober設備。它既可靠又準確,為廣泛的應用提供了高級測量功能,如晶片級表征和評估、芯片級成像、封裝測試以及故障和缺陷定位。Opus III通過其關鍵功能提供高效、經濟高效的自動化和生產產量優化。該系統由三個主要組成部分組成：一個分析器、一個分析單元和一個診斷工具。這臺機器的核心是晶片級、頭部和手寫筆。晶片級設計用於在測量過程中精確定位晶片,探頭包含可用於執行物理和電氣測量的探針陣列。手寫筆允許用戶精確測量晶圓上的不同點。分析工具允許用戶使用圖形用戶界面（GUI）配置和運行自動測量。它用於收集晶片級圖像，獲取電氣特性和創建晶片圖，以便進一步診斷和解決缺陷。資產可以異常測量最小的細節，在晶圓上的不同點之間快速移動，節省時間和辛勤工作。診斷工具支持用於脫機故障分析的圖像或軟件。它包括從繪制測量數據、抽查預定義位置到報告等幾個功能,以利於進行調查。使用此工具可以輕松識別導致模具故障或性能故障的缺陷。為了保證高精度，該型號采用了非常精確的閉環伺服控制設備。它具有閉環運動控制的精密級，並使用編碼的X、Y和Z軸提供晶圓的精確定位。探頭設計用於提供精確的電氣測量,並自動校準自身。SEMICS Opus III是最可靠的prober系統之一,是半導體制造和芯片測試過程的理想選擇。該系統具有先進的精確度和精確度，可實現高效、經濟高效的自動化和生產產量優化。