二手 SEMICS Opus III #293663242 待售

SEMICS Opus III prober是一個全面且精密的晶片測試平臺，旨在允許測試各種矽片，包括但不限於、CZT、絕緣體矽（SOI）、厚膜陶瓷、聚酰亞胺基板。該方法以電容耦合反饋（CCF）設計為基礎，利用12個電極組成的陣列來強制測試和生成要收集和分析的數據。這是通過在電極上施加電勢來實現的,以便檢測探頭下方是否存在設備的信號。Prober還附帶了進行全面缺席/存在測試所需的軟件,以及單個設備和基於區域的測試。憑借其軟件和獨特的設計,系統能夠快速準確地檢測短路、打開、部分部分連接的設備,甚至極小的故障。它還提供可選的校準,當對設備的配置進行極小的更改時,可以提高準確性和精度。Opus III還能夠打印出正在測試的基板的圖像,這樣工程師不僅可以準確了解正在發生的事情,而且還可以直觀地檢查和研究晶圓測試過程中可能出現的任何問題。此外，SEMICS Opus III還配備了一個用於低泄漏和可重復性晶片測試的高真空探測室。該室具有多種用途-保護晶片表面不受汙染和損壞,減少測試頭的汙染,並提供出色的樣品均勻性和可重復性。例如，從室內抽取的空氣樣本可用於常規測試，以查明底物的任何問題，如微米級汙染或錯位，可能導致數據無效。此外,prober還包括一個可調定位器,允許它在x軸和y軸平面上同時移動測試和探頭。該定位器還允許用戶調整測試和探頭之間的間隙距離，以提高準確性和可重復性。總體而言，Opus III prober是一個通用而全面的平臺，能夠對各種晶圓基板進行有效的測試和數據采集。憑借獨特的CCF設計、可調定位器和專用軟件,它是確保基板質量和準確性的理想解決方案。