二手 SEMICS Opus III #9251173 待售
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SEMICS Opus III是為半導體晶圓測試和探測而設計的高性能prober。它具有模塊化設計，允許集成各種組件，如視覺模塊、可靠性模塊等。該探測儀非常適合探測測試結構和進行電氣測試，以便進行有效的測試和可靠的數據收集。OpusIII prober由測量頭和控制單元兩大部分組成。測量頭由一個自動化的3維prober臂、一個晶圓旋轉平臺和一個X-Y電動級組成，以及一個用於固定晶圓的真空系統。這些組件允許對小型設備進行高精度測量。控制單元包括綜合性能測試和操作模塊。此模塊控制prober的操作並存儲從晶片獲取的數據。Prober具有多種特性，如高精度性能、測量的重復性、高穩定性和快速探測周期。它旨在支持一系列晶圓尺寸和厚度,以及各種探測技術,如渦流、電阻、電容、電壓、電流和時域。它還兼容各種封裝類型和大小，如TSOP、QFH、PGA和針腳柵格陣列。SEMICS Opus III提供了許多有用的功能。其自動分級校準系統確保精確一致的晶圓放置和測量，而其多向運動控制系統則允許用戶快速更改設置和修改參數。此外,嵌入式繼電器模塊有助於支持不同的電壓要求,並提供多通道探測.總體而言，Opus III是一種用於半導體晶圓測試和探測的強大而可靠的探測器。它設計速度快、效率高,采用模塊化設計,並具備多種高性能功能。它可以準確快速地測量各種晶片類型和測試結構，同時為高效的測試和分析提供可靠的數據收集。
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