二手 SEMICS Opus III #9254913 待售

SEMICS Opus III是專門為半導體晶圓探測而設計的先進、高度精確、自動化的prober。它的特點包括一個健壯、高速的探測算法，允許精確和快速的測量，一個先進的計量套件，以確保結果的準確性，自動化的數據分析功能，以及直觀的圖形用戶界面，以最大限度地提高易用性。集成晶圓處理系統設計為支持標準尺寸和類型的半導體晶圓以及包括3英寸、5英寸和SMD基板在內的特殊晶圓。根據測試幾何形狀的不同,每個晶片最多可探測四個位點,並提供多種探測附件。該設計還包括一個剛性框架結構，用於晶圓卡盤和螺旋槳頭的精確對準，以及主動減振系統。Opus III結合了一套先進的計量套件，其中包括確保準確高效數據采集的全面測量系統，以及用於快速圖像處理和數據分析的集成數字圖像查看器。它的數據分析功能還允許不同地點之間所有測量結果的相關性。Prober直觀的圖形用戶界面簡化了設置和操作，方便了測試參數的自定義。它還允許用戶監控測試進度，快速確認測量結果。嵌入式程序允許保存測試配置設置和探測模式，還為用戶提供連續的屏幕指導。SEMICS Opus III是按照最高質量標準設計制造的，非常適合苛刻的生產環境。其高吞吐量、高精度以及廣泛的特性使其成為生產和測試半導體器件的絕佳選擇。