二手 SEMICS Opus III #9276658 待售

SEMICS Opus III是來自SEMICS International Corporation的最先進的PROBER,在電氣/熱測試方面提供無與倫比的性能。Opus III以雙隔離高壓/大電流接觸模塊為特色，確保現代半導體器件的高效測試。此技術還可以防止敏感設備的高壓/高電流接觸探測可能引起的尖端斷裂和過熱問題。集成的電動光學顯微鏡允許進行廣泛的半導體缺陷分析，例如通過其5軸運動可以輕松實現的極端特寫視圖。該光學器件既可用於宏和微觀成像，也可用於徑向和垂直變焦。另外，該探頭包括用於測試各種半導體器件特性的多種原位探針，如電流和電壓、電感、電阻、電容等等。SEMICS Opus III包括一個完全計算機化的架構，用於快速高效的板載和測試。該單元通過15英寸彩色觸摸屏顯示器和計算機控制的探測器進行編程。利用現有的4GHz單簇控制系統，可以同時運行多個板測試序列。這種快速測試多塊板的能力可確保測試樣品的高吞吐量,而不會影響準確性。除了基本的prober特性外，Opus III還包含了許多其他功能。集成總線分析儀允許同時自動分析多達8個總線,並允許會話記錄,以重放統計分析和改進板診斷的各種測試組合。先進的基於高速視覺的探針放置系統及其專有的板件對準技術使探針的自動放置比傳統的手動探測方法更快。為了確保測量中盡可能高的準確性，不斷對設備進行溫度補償，以減少任何自發誤差。此外,SEMICS Opus III允許對多個板進行並排測試,因此可以對相同板進行測量並進行比較以獲得更高的準確性。此外，prober的自動補償特性的創新算法消除了由於外部因素在測量中的任何差異。Opus III是一款功能強大的精密處理器,旨在滿足最苛刻的板分析和測試要求。SEMICS Opus III具有廣泛的功能和增強的性能功能,非常適合檢查和測試最復雜的半導體板和器件。