二手 SEMICS Opus III #9350492 待售

SEMICS Opus III prober是一個全面、通用的半導體晶圓測試系統，旨在執行晶圓和設備prober操作。它支持多種不同類型的晶片測試，包括全晶片級生產、晶片排序、工程晶片、模具排序、元件和可靠性測試。Opus III prober為包括RF、模擬、數字和混合信號設備在內的各種晶圓和設備級應用提供探測解決方案。Prober的設計具有獨特的用戶友好界面,提供測試及其關聯參數的全面庫。它從一臺臺式PC上提供了完整的晶圓和設備級編程,節省了測試操作員的時間調試軟件並進行了修改。這降低了在測試周期中維護多個設備的復雜性，讓操作員專註於測試和分析。SEMICS Opus III prober擁有廣泛的測試和測量庫,可用於涵蓋各種應用程序。這些測試可以檢測、識別和報告多達19個參數，包括位置、接頭泄漏、隔離泄漏、接頭電容、閾值電壓和通道長度測量。它還為掃描測試提供了集成的基於視頻的模具和模具識別方法。掃描技術讓prober可以最大化測試覆蓋範圍，從而在過程中產生更高的準確性和更好的數據準確性。Opus III prober還配備了超出晶圓測試的一系列功能。它包括一個用於托管自定義軟件和硬件插件的開放平臺,從而實現更高級別的自定義和可擴展性。Prober還包括用於處理不同晶片尺寸的選項,以及用於加快晶片加載速度的預對準工具。SEMICS Opus III還擁有一系列先進的運動控制系統，可實現更快的測試操作並減少運動偽影，從而提高精度。Opus III prober的其他特性包括基於軟件的通過/失敗分析、集成泄漏測試以及用於表征設備特性的電阻測試。它還帶有一個用於集成到現有測試系統的API（應用程序編程接口）,以及一個靈活的電源升級選項,可提供更深入的報告列。最後,Prober包含一系列高級安全保護功能,如電磁幹擾（EMI）保護和數據安全。