二手 SEMICS Opus III #9378092 待售
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SEMICS Opus III是專為高壓測試、半導體器件探測和半導體元件設備級驗證而設計的prober。其全自動設計針對高通量、低成本和低維護測試進行了優化。Opus III包含質量控制功能,可幫助滿足行業標準以進行可靠和準確的測試。SEMICS Opus III由一個測試系統和探頭站組成，最多有六個多針探頭（MPP）模塊探頭，用於自動進行大容量測試。MPP模塊采用雙探針卡設計,最多可同時測試六個不同的針腳。每個引腳都是完全自動化的,並單獨校準以精確測試高電流設備。雙探針卡設計還有助於最大限度地減少汙染並確保統一的測試條件。可以對測試單元進行編程，以支持各種測試序列和條件，滿足各種測試要求。它包括一個基於網絡的機器控制器、測試儀器、電源以及用於分析設備熱影響的熱成像模塊。它支持範圍廣泛的設備包和大規模集成電路（LSI）,尺寸可達200 mm。控制器配置有實時操作工具，允許對測試序列進行參數化設計，並對測試進行實時監控。Opus III提供了用於資產級別驗證和質量控制的高速測試功能。測試加速功能包括基於矢量的定時（VBT）和用於增強測試性能的單脈沖分析（SPA）。SEMICS Opus III具有對多達12個I/O引腳的自動化測試、100 µs可重復性以及對多個設備的20 ns掃描時間。Opus III提供了一個通用平臺，用於探測和測試各種設備。它支持對設備特性的連續監控,是可重復的,旨在保持高產率和準確的測試結果。軟件和硬件配置是為快速設置和易於與生產測試系統通信而設計的。其高通量、低成本、低維護能力使得SEMICS Opus III成為半導體器件質量控制和生產測試的理想選擇。
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