二手 SEMICS Opus III #9378095 待售
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SEMICS Opus III是為半導體器件的測量和分析而設計的專業探測系統。它為半導體生產中的所有測量和測試任務提供了一個全面、通用的解決方案。Opus III配備了兩個最高分辨率高達45 µm的高性能多通道顯微鏡成像系統，允許被測設備具備完整的3D成像能力。探頭具有可調節的X/Y定位器、可調節的Z級和用於處理小樣品的真空卡盤。柔性光學對準和聚焦機構為快速的樣品處理和檢查提供了最高的精度和準確性。SEMICS Opus III具有廣泛的高性能探測模塊選擇,具有不同的探測和數據采集策略選項。最流行的是熱、電、機械探測。熱探測模塊是測量被測設備溫度曲線的有力工具。電氣探測模塊提供一系列電壓和電流測試功能，以檢查設備的質量。機械探測模塊能夠提供用於測量設備電阻和非電阻性能的高精度數據測量。Opus III還具有廣泛的分析工具，包括圖像處理、熱電數據分析和機械數據調查。用戶友好的圖形軟件允許輕松瀏覽大量菜單和幫助文件。該系統配有開放式體系結構，允許與其他現有軟件包和工具集成。此外，系統還可以連接到外部信號源，例如溫度源或電壓源，以便進行更復雜的測量。SEMICS Opus III的高功能使其成為快速、準確地檢查和分析半導體器件的可靠而強大的解決方案。
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