二手 SEMICS Opus III #9393617 待售

SEMICS Opus III是一種特殊類型的探測過程，受到尋求準確可靠結果者的高度追捧。它是各個組織用來分析樣品的晶粒和結構以確定其物理性質的技術。具體來說，Opus III是一種3維電子顯微鏡輔助探針技術。它采用了專門設計的SEM探針設備和高分辨率CCD攝像機,可映射樣品的三維表面。高精度探針由一個多元物鏡系統、一個掃描電子顯微鏡柱以及其他各種成分組成。該單元能夠實現3納米的分辨率，顯著提高了復雜分析的分辨率和準確性。在操作中,SEMICS機器首先在三個維度上掃描樣本的表面,以捕獲物理結構的圖像。然後分析這種數字掃描的各種頻率和模式，可以洞察指定樣本的物理構成。這類分析可用於確定材料性質如彈性、拉伸強度、導熱系數、導電系數等物理性質。該工具還提供了一種獨特的「X射線樣」分析形式，允許研究樣品的內部特征，否則可能很難觀察到。SEMICS Opus III的獨特之處在於它能夠探測範圍廣泛的樣品，從金屬等導電樣品到塑料和聚合物等非導電樣品。它提供高分辨率成像,具有精確和準確的成像結果,並提供無法通過任何其他方式收集的樣本信息。由於它在三個維度上的掃描能力，它甚至可以用來檢測原始樣品微觀結構的缺陷。此外，結果可以非常詳細，提供關於物質樣本的物理構成和結構的高度全面的信息。Opus III是一種用途廣泛、功能強大的技術,已成功應用於各種行業,以便準確地研究材料和組件。納米分辨率對探測細膩樣品如半導體、納米材料和其他高精度粒子特別有利。該技術具有廣泛的適用性和可靠的準確性，是材料分析中廣泛接受的選擇。