二手 SEMICS Opus III #9410027 待售

SEMICS Opus III是一種自動化的prober，設計用於測量半導體芯片、集成電路和其他微電子器件等器件的物理和電氣參數。Opus III配備了自動對焦相機和光學設備，用於對設備進行目視檢查，以及兩個用於測試和prober應用的機械臂。機械臂的設計目的是為探測、故障排除和檢查設備提供精確和可重新定位的環境。該程序還具有自動設備托盤加載系統和多個測量通道。探測單元基於SEMICS先進的物理性能測量技術（PPMTM），用於測量和分析設備的接觸電阻、電容、電感、接觸電阻等參數。Prober還支持VXI、GPIB、PCI、FEDBUS和VME等多種類型的測量儀器。整個機器使用集成的計算機軟件和顯示器進行控制。物理特性是使用Optiflow軟件測量的，該軟件基於考慮不同設備的個體特性的數學模型。該工具采用高度敏感的探頭，設計用於測量物理特性的微小變化，精度高。本軟件用於控制測試序列和測量腳本,並為不同類型的探測器和設備定制參數和校準。SEMICS Opus III還配備了多種電氣表征儀器，如漏電電流探測器（LCD）、偏置探針和用於資產表征和精確溫度控制的儀器。該模型旨在將測量結果與設備模型相結合，生成高效的設備分析。結果分析有助於識別設備異常行為和故障。Opus III集成了與安全數據中心的可靠和安全連接,用戶可以訪問測試結果並遠程管理設備。該系統還具有直觀且用戶友好的控制面板,用戶可以輕松配置和管理設備。SEMICS Opus III提供了一個創新、經濟高效的prober解決方案，幫助半導體行業的客戶高效、準確地測試和分析他們的設備。