二手 SEMICS Opus #293685953 待售

SEMICS Opus是由SEMI Test Systems開發的掃描電子顯微鏡（SEM） prober。它用於測試和驗證需要集成高級設備和過程控制以及自動化的產品和解決方案。Opus prober的設計目的是在單個封裝中提供全面的樣品準備和準確的探測能力。它被設計用來容納各種各樣的樣品，從標準的扁平基板到大型、復雜、形狀復雜的零件。SEMICS Opus prober提供了對參數的完全控制,以進行精確和可重復的測量。這包括樣本位置、分辨率、功率和頻率等參數。它還有一個集成的圖像分析系統，用於捕捉和分析圖像數據，使研究人員能夠進行準確和可重復的測量。此外，Opus prober能夠控制各種類型的探針，如AFM、DC、E-beam和激光探針。其他特點還包括在探測前後用光學顯微鏡對樣品進行目視檢查，寬廣的真空範圍以容納各種樣品大小和形狀，以及在站間快速交換樣品而無需操作員幹預的自動樣品交換單元。SEMICS Opus prober旨在促進樣品測試和驗證,同時減少與傳統測試和驗證過程相關的總體時間和成本。它能夠在常規方法的一小部分時間內執行詳細的掃描和探測,從而使公司能夠快速收集為決策提供信息所需的數據。此外,Opus prober設計為用戶友好,具有簡單的設置和操作過程。這使公司能夠充分利用對機器的投資，並更快地獲得必要的見解。SEMICS Opus prober非常適合各種過程驗證和測試應用,包括故障分析、產量改進和組件性能評估。通過使用Opus prober,公司可以獲得必要的數據,以更好地了解其產品和解決方案的性能和可靠性。這為公司提供了前所未有的對其流程的洞察力,使他們能夠進一步進行產品開發、驗證和測試。