二手 SEMICS Opus #9228262 待售

SEMICS Opus是用於半導體器件表征和測量的最先進的載體。它被設計用於表征多種基板上的器件，包括絕緣體上矽（SOI）、矽和砷化​​氙（GaAs）。Opus利用先進的電氣探測技術，提供精確的直流和交流參數提取，用於設備的表征和測試。SEMICS Opus提供無與倫比的光學級測量精度，與最流行的校準包完全兼容。精密工具具有獨特的能力,能夠捕捉電壓和電流響應的瞬態或動態變化到亞納秒,從而實現設備測量行業領先的精確度。Opus提供了一個自動化的電氣探測和參數提取設備，消除了手動prober操作的需要。系統使用三個獨立可控的軸,這些軸應配置為與使用中的基板相匹配（例如,接觸間距、直徑等）。探測器安裝在聯系人持有人上,使用戶能夠充分利用其探測會話。探頭單元還帶有一個集成的熱控子級，在測試過程中顯著降低了熱誘導偽影的風險。自動化Prober的設計目的是通過將高通量功能集成到工具中來減少Prober的設置時間。這些功能包括站點到站點的互連性、與設備接觸技巧的自動納米級對齊、自動設備定位和自動信號路由。這些功能允許用戶最小化設置時間並最大化工具利用率。SEMICS Opus擁有先進的電氣測量機。它允許用戶通過廣泛的電阻、電容、功率和電抗測量來測量直流和交流測量。這些測量參數非常適合設備參數的表征和測試。堅固的工具還包含高級安全功能,以確保所有實驗均符合行業標準。安全功能包括多種工具，以確保保持測量的精度和準確性，包括集成的屏蔽工具、保護資產和故障檢測模型。最後,Opus prober提供了一種用於快速可靠的設備表征和測試的自動化工具。該工具利用先進的電氣探測技術和高速納米級對準，為廣泛的測量提供了精度和準確性。憑借可靠的安全設備，提供業界領先的可靠性和可用性。