二手 SEMICS Opus3 #155756 待售
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單擊可縮放
已售出
ID: 155756
晶圓大小: 6", 8", 12"
Wafer prober, 6", 8", and 12"
Basic specifications:
Wafer size: 6", 8", and 12" wafers
Accuracy: ± 1.5µm
Card changer: 350 to 480mm
Temperature range: -55 to 200°C (with ambient control)
Chuck force: 300kg
Index time: 200msec (5 x 5x x 0.5mm)
Auto cassette loader available in 3 configurations:
Flat top loader
Top loader
Dual FOUP loader
Features:
Smart Probe card Alignment (SPA) Mechanism
Intelligent Overdrive Control
6", 8" & 12" Wafers without Mechanical Changeover
Superior Tri-Temp. Control (Cold/ Ambient/ Hot)
Flat Top for Large Test Head
Easy On-Site Calibration
Fast Index/ Less Vibration
Fastest & Simplest Auto Card Changer
Fast Linear Motor Control for XY Stage
Z-Down Control at the Time of Power-Down
200x100 Needle Cleaner
CCD Camera Cassette Mapping for Thin Wafers
High-Performance OCR
SECS GEM Compliance.
SEMICS Opus3是由SEMICS Incorporated開發的prober設備。設計用於晶圓廠環境下半導體器件的生產。該系統結合了各種測量儀器，如激光幹涉儀、計量系統和力傳感器，以及可用於收集數據和進行高級數據分析的精密軟件。SEMICS OPUS 3 prober unit是一種用途廣泛、高度先進的機器，適用於模具到達測試和地圖零件分析、運動學和動態分析、光學顯微鏡（OM）測試和測量、探針卡性能測試等廣泛應用。它也被用於晶圓級測試如參數測試和故障分析。Opus3 prober工具配備了光束監視器資產,使用戶能夠對晶片進行準確的數據記錄。該模型還采用激光幹涉儀來測量螺旋槳和晶圓之間的距離。此外，還包括一個全自動對準和對焦設備，使用戶能夠快速準確地調整定位系統的對準和對焦。OPUS 3還包括一個力傳感器，允許用戶測量prober和晶圓之間的接觸力。此外，該單元還包括一個集成的計量機，由圖像處理和數據采集功能組成，可用於在晶圓測試期間收集數據。SEMICS Opus3 prober的控制工具非常直觀，易於使用。用戶可以通過用戶友好的圖形用戶界面發出命令來控制prober及其功能。它還具有根據用戶的具體要求定制自己的測試程序和控制參數的能力。此外，控制資產允許用戶根據晶圓測試環境的變化修改其程序，確保在測試過程中收集準確可靠的數據。總之，SEMICS OPUS3 prober模型是一種真正通用、先進的設備，適合廣泛的應用。它結合了各種測量儀器和先進軟件，使用戶能夠在晶圓測試期間有效地收集數據並進行數據分析。
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