二手 SEMICS Opus3 #9068355 待售

SEMICS Opus3是由SEMICS開發的一個先進的prober平臺，使有效的晶圓探測能夠測量和分析集成電路（IC）的電氣特性。該設備提供高性能和用戶友好的操作,以快速識別IC中的缺陷並優化其設計。SEMICS OPUS 3利用了prober技術的最新進展，包括完全計算機化的探測、自動化的模模比較測試和多模掃描功能。它還可以自動定位卡盤,以及將晶片自動加載到探頭中。因此，Opus3能夠實現IC的快速測量，並區分模具參數和子模具參數。OPUS 3的高精度使用戶不僅可以進行暗場和明場成像，快速識別IC的缺陷，還可以檢測電氣參數的細微變化。該平臺利用CCD攝像頭以各種圖像格式（如SEM和TEM圖像）顯示IC的表面信息。SEMICS Opus3提供了一個高級控制系統,用戶可以在探測操作期間調整IC參數。通過使用參數管理器和探測程序管理器軟件，用戶能夠調整IC條件，達到最高信噪比和最高測試速度。用戶還可以參數化探測配方,並使用固定參數或自定義配方立即更新模具參數。此外，平臺提供多種測量選項，如晶圓上測試和晶圓映射，使用戶可以在比較多個工藝節點的IC的同時獲得各種電氣測量。該單元的軟件還允許用戶設置探測模式參數，包括自動重新校準和自動波形測量功能。總體而言,SEMICS OPUS 3是一個高級prober平臺,它提供了廣泛的功能來快速識別和測試IC。該平臺提供多種測量選項、自動探測操作和CCD攝像頭支持,以實現高性能缺陷檢測。該計算機還提供了高級參數管理器和探測程序管理器,用於可定制且高效的操作。