二手 SIGNATONE CM-170 #9363189 待售

SIGNATONE CM-170 prober是為精確測量集成電路而設計的探測設備。該系統專為雙極、MOS、BiCMOS和CMOS等一系列技術而設計,結合了功能齊全的微處理器控制的Prober和接觸檢查和開爾文探測功能。它提供8GHz的精確電氣測量,允許用戶訪問和測量高性能集成電路結構上的信號。Prober由緊湊、符合人體工程學的底座、傳統的卡盤、基於卡的處理器以及最多兩個可選的開爾文探針組成。基座包括一個用於晶片或晶片掃描和校準的氣動定位單元，一個自動面板交換機，以及一個容納單個晶片或晶片探測的樣品支架。拆卸prober上的卡盤,以便輕松訪問組件,並方便外部電纜連接。它還確保了探頭操作過程中樣品的低熱傳導。處理器為SIGNATOME CM-170處理器提供智能,並提供對所有組件的交互式控制。它具有多種基於PC的應用程序,用於執行測量任務以及探測和軌跡控制。一個可串行編程的圖形界面可以對測量和位置參數進行微調。處理器還配備了自動晶片對準工具,用於正確定位樣品。可選的開爾文探針允許用戶執行高精度、低噪聲的接觸測量。這些探頭具有用於溫度漂移的電子補償電路和同時吸收力和樣品溫度讀數的集成壓力傳感器。這允許用戶在各種環境中執行一系列測量。SIGNATONE CM-170 prober已設計用於生產和實驗室環境。其功能適合於多種應用，如晶圓延遲測試、相對擴散測試、內存測試和功能測試。該資產的集成特性使其成為當今高性能集成電路電氣測試的絕佳選擇。