二手 SIGNATONE S-301-6 #9359243 待售

SIGNATONE S-301-6 prober是一種高度精確和先進的晶圓探測設備，設計用於高速、精細的音高和可靠的晶圓探測研究、開發和生產。它非常適合測試半導體器件,如MEM、MEMC、SOI和CMOS器件。該系統配有6軸校準單元，可實現自動化、精確的對準、索引、音高測量和音高控制。6軸機由高速機動平移級驅動，允許使用多達十六根可調節探針。探針可用於測量垂直和橫向電氣和光學參數。該探測器還配備了自動對焦攝像頭，該攝像頭使用基於LED的光源進行自動晶片對準和自動晶片處理。高分辨率相機和視覺工具可確保精確和可重復的探測。該資產具有一個用戶友好的基於消息的界面,讓用戶為prober上的每個序列提供命令。用戶還可以為重復測量創建首選項和配置文件。S-301-6 prober提供精確、可重復的測量和晶片的快速操作。它與各種流行的自動探測和掃描探測機（SPM）完全兼容。它旨在與IEEE信號探測標準（IEEE 1587.1）兼容,並且與許多不同的提示兼容。4合1探測站允許同時使用4個探針，並可支持高達6英寸晶圓大小的探測。探測站利用多個可調探頭來實現最佳接觸，並采用內置散熱換熱器。該型號還配備了可調節的UV井板支架，可容納多達24口井，設計用於標準的UV管芯。此外,集成的晶片卡盤和托盤為自動放置晶片和大型晶片設備測試提供了一個安全的平臺。先進而精確的prober可用於測試各種參數如短電阻、柵極泄漏和狀態電流、功率泄漏、電阻電容值和閾值電壓。該系統還提供了廣泛的頻率測量，如散射參數和時域反射儀（Time Domain Reflectometry，TDR）測量。SIGNATONE S-301-6 prober已成為測量和測試各種半導體元件的可靠和可靠的工具。綜合的一組特性使其成為研發、生產中測試和測量的理想選擇。易用性、高精度和可重復性,以及廣泛的功能允許對組件進行更快、更精確的測試。