二手 SPEA 4030 #9252475 待售

SPEA 4030是為半導體器件的高精度探測而設計的先進prober。它是一種全自動、高速的螺旋槳,具有極高的精度,能夠測量直徑不超過12英寸的晶片上0.1 µm的特性。4030采用了新的光學幹涉探測系統（OIP）,能夠適應不斷變化的晶圓尺寸,提供高達15微米的垂直行程,並且可重復性為0.5µm ±。該探頭還設計了2.5µm ±的偏移能力，以適應最新一代的大小型裝置墊片。自動螺旋槳裝有一個電動XY級,能夠移動到1毫米/秒,精度±為2.5 µm。L形模版圖系統在定位用於探測的晶片時允許高度精確，精度±為0.5µm。為了保證最高精度，SPEA 4030配備了多種高級功能，包括自動壓力補償、變速調節和無線設計。自動壓力補償可確保晶片之間的均勻力分布,從而獲得最佳效果。而且，prober在不同位置之間移動的能力也可以用高精度的控制來定制。這允許在整個過程中微調晶圓位置。和大多數精密探針一樣，4030還附帶一個分析站，它提供數據，可以幫助識別和消除測試和測量中的錯誤。這確保了prober可以用於測量甚至最復雜的設備。SPEA 4030是一種高度可靠且經濟實惠的精確探測解決方案。憑借其先進的特點和可靠性，它已成為許多半導體行業實驗室的重要工具。