二手 SPEA 4040 #293670030 待售

SPEA 4040是一種用於探測包括小晶片和超微結構（如MEMS和Nano-electronic結構）的微結構的prober。4040是一款用途廣泛、功能準確的prober。它可以處理直徑達200毫米的晶片，最大厚度為3mm。Prober可以編程為執行各種測試功能，如電氣測量和數據收集。Prober使用先進的軟件包操作,該軟件包允許自動測試和數據收集。可以定制軟件以滿足特定的測量和數據收集要求。軟件還具有內置的安全功能,可確保prober的操作安全,並防止對測試的微結構造成任何潛在損壞。SPEA 4040配備了先進的高分辨率視覺系統，能夠對微觀結構進行準確和可重復的測量。視覺系統包括晶圓映射和翹曲、3D測量和成像以及自動對準等幾個功能。Prober有4或5個運動軸,具體取決於配置。每個軸由馬達驅動,由計算機控制。這樣就可以對微結構進行精確和可重復的定位以進行測試。該探頭配有一個特殊的探頭，使探頭難以進入微結構的區域。探針尖端還可以換取多種替代探針，以適應不同的晶圓技術。4040還設計了最大的可靠性和較長的使用壽命。Prober是使用質量組件構建的,旨在滿足苛刻的操作要求。它可以編程為運行各種測試同時減少設置和測量時間。Prober還設計用於在整個操作過程中保持準確性。SPEA 4040是為測試微觀結構而設計的先進prober。它具有先進的視覺系統、自動化測試和各種探測技術。可靠，設計使用壽命長。4040是測試各種晶圓技術微觀結構的理想解決方案。