二手 SPEA 4040 #9145863 待售

SPEA 4040是一種用於測量半導體晶片以診斷關鍵半導體參數和晶體特性的prober。4040使用戶能夠以高度的精確度和精確度分析晶片的表面粗糙度、地形、整體形狀和電氣特性。SPEA 4040具有500毫米x 400毫米的工作臺,並提供多種功能來測量直徑可達300毫米的晶圓。Prober設計用於進行廣泛的電氣測量，包括電容、電阻、跨導、泄漏、表面電位、電壓、鈷測試等等。4040的集成軟件使獲取、可視化、分析和報告結果變得容易。除了先進的表面映射技術外，先進的帶狀映射技術可以提供有關晶圓表面潛在輪廓的寶貴信息。此外，SPEA 4040具有獨特的接觸驗證系統，可最大限度地減少接觸情景，減少晶圓表面的汙染物和灰塵。此外，系統可以將從prober獲得的結果與各種技術參數相關聯，以確保準確、可重復和可靠的測量。4040具有集成的用戶界面,使其易於使用,並允許快速有效的測量。此外,Prober還采用可擴展的體系結構進行設計,該體系結構可提高可擴展性,並能夠在單個平臺中集成多個硬件、軟件和數據采集系統。SPEA 4040能夠保持溫度、壓力、濕度等環境條件等關鍵操作參數，成為高質量半導體測試的理想設備。此外，保護裝置的強屏蔽級將盡量減少電磁和其他環境擾動的影響，確保可靠的測量。最後，4040是專為半導體晶圓測試而設計的魯棒。憑借其先進的功能、廣泛的功能和用戶友好的界面，SPEA 4040是任何半導體晶圓測試應用的可靠可靠的解決方案。