二手 SPEA 4040 #9199488 待售
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單擊可縮放
已售出
ID: 9199488
優質的: 2006
Flying probe tester
Operating system: Windows 2000 Professional
X, Y, Z Axes: 1.2 Micron resolution
Large test area: Up to 686 x 610 mm (27" x 24")
(2) Top cameras
(4) Top probes
In-line board loader
Automatic Cassette Feeder (ACF) included
Shuttle board loader
Front loader
Combined board loading
Boundary scan:
Infrastructure test (Integrity)
Interconnection test
Boundary scan ICT test
In-boundary scan test
Optical test:
Correct orientation components
Character and symbol recognition
Presence / Absence components
Solder paste control
Hardware:
PCB Modules:
SCAN1
XAMIS
XADRIV-1
XADRIV-2
XABOST30/S-1
XABOST80/S-4
XAGAU2
DIAG-340
ANSEMOD B
Mod01 E68340
(2) Mod03 DI16I0A-7
(4) Mod04 DI16I0A-7
Power supply:
208 V, 3 Phase
380 V, 3 Phase adapted
2006 vintage.
SPEA 4040是一種專為高通量晶圓分選和元件測試而設計的prober。是一種高速、高精度的系統，可用於測試集成電路、晶體管、電阻器等組件。4040由一個基地單元、一個控制單元、一個探頭單元和一個測試頭組成。基本單元包含電源、放大器、主邏輯板。該控制單元用於控制和監視prober。探頭單元包含接觸探頭、其載體和驅動程序以及探頭卡支架。測試頭由測試頭架、樣板、樣板吊船組成。可以為各種測試應用程序設置和編程prober。它可以設置為有選擇地探測設備上的任何針腳或針腳的任何組合,以便測量其特性。還可以設置prober來測試零件上的所有針腳,以進行完整的表征。SPEA 4040的排序速度非常快。它可以在大約一分鐘內對2英寸晶圓進行排序，在大約兩分鐘內對4英寸晶圓進行排序。該探頭還具有非常靈敏的探測能力。它的靈敏力和電流測量使它能夠檢測晶片材料特性的最小變化，使其成為故障診斷的理想選擇。螺旋槳具有堅固的機械設計，可以在惡劣的環境中操作。它還具有可配置的可重復性和非常規功能，因此它可以對多個設備回憶和重復相同的測試條件。最後，4040有幾個安全特點。它具有緊急全停輸入、警報、帶有內置安全裝置的車廂以及車載安全監視器。所有這些功能都確保了操作的安全性和效率。總之,SPEA 4040 prober為各種設備提供了快速、準確和可靠的測試解決方案。它配備了幾個安全特性，適合在危險環境中使用。它能夠快速對晶片進行排序,並提供敏感的探測功能,使其成為高吞吐量晶片分類和組件測試的理想選擇。
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