二手 SPEA 4060 #293823163 待售

SPEA 4060 Prober是一種自動化晶圓prober設備，設計用於半導體行業的大批量生產和過程控制應用。該系統具有高度的靈活性和準確性,能夠對各種離散組件和集成電路板進行完整的過程控制。該單元適用於載荷容量為4個半導體晶圓的200 mm以下晶圓尺寸。4060 Prober設計用於支持晶圓工藝背面和/或正面的預粘結、預膠帶和後膠帶操作。它配備了先進的探測技術，包括MEMS傳感器、氣動和吸力傳感器以及微觀模式。還配備了先進的安全功能，包括超行防護、碰撞檢測、指令式可編程安全電路等。SPEA 4060 Prober提供靈活的操作和先進的操作參數，包括可調節的探測速度、探測深度、非接觸式探測和低壓探針。Prober的高級功能允許更精確的探測過程。該機器還具有內置的校準和檢測功能，可確保精確測量晶圓上的每個探針位置。4060 Prober以其快速的樣品循環時間和較小的探測步長，確保每個晶片在接觸壓力和表面損傷最小的情況下都能完全探測到。該工具還配備了自動探針交換器，能夠在探針類型之間快速、方便地切換。資產支持多種探測樣式，允許操作員根據設備類型和應用程序要求自定義探測配置。SPEA 4060 Prober具有模塊化雙探針模型,可快速安裝和卸下,以便於維護和消除集成電路板和探針損壞。它還具有先進的運動控制技術,通過在探針通道和自動定心之間提供緊密間距,最大限度地減少探測過程中的循環時間和穩定性。總體而言,4060 Prober是一種可靠而全面的自動化晶片prober設備,可提供高性能、準確性和靈活性,用於測試各種半導體元件。通過提供可靠的探測結果、高速、高精度、易於操作和先進的安全功能,該系統有助於降低產品測試成本並提高產量利潤。