二手 TAKAYA APT 3050 #293596459 待售

TAKAYA APT 3050是為晶圓探測應用和其他IC封裝測試及調試活動而設計的最先進的prober。在當今先進半導體器件的測試和評價中，該技術能夠提供高精度和重復性。TAKAYA APT-3050的探針室設有20,000個微型探針，能夠對多個設備進行並行測試，同時對不同模式的單個設備進行測試。該機構基於安全、準確、平穩的接觸傳遞空氣軸承設計，即使在非常低的壓力下也能提供可靠的操作。Prober另外還配備了約25個大功率LED,為精確的圖像采集提供了卓越的照明效果。APT 3050建立在8-Axis XYZ系統上,並附帶標準9-Axis選項,用於完整的設備表征和評估。該探針非常適合各種應用，如手動晶片探針和碳酸化、局部探針和模具級測試、高速晶片分選和高密度探針。其他功能包括多站點測試、自動處理、多站點表征以及實時數據采集和分析。Prober還配備了高速自動對焦、精確的低力氣球接觸探測、無汙染操作等多種自動化功能，以及庫支持和高精度運動控制。用戶界面被設計成符合直觀的，有一個具有專用功能鍵以及數據輸入字段的人體工程學控制器。為了為應用程序提供最佳支持，APT-3050還包括一套用於在線分析、成像和統計數據處理的軟件工具。TAKAYA APT 3050是半導體行業廣泛應用的理想解決方案。其精確且可重復的測試功能既經濟又靈活,使客戶能夠經濟高效地表征和評估微米級別的設備。Prober為任何研究、開發或生產測試要求提供卓越的精度、長期可靠性和強大的性能。