二手 TAKAYA APT 8400CJ #9350684 待售

TAKAYA APT 8400CJ prober是一種用於中小型半導體器件電氣測試和探測的設備。它是一個全自動、多探針、微觀定位系統，采用高度精確、集成的顯微鏡系統來精確處理小型探針。TAKAYA APT 8400 CJ使用了XYZ以及旋轉和傾斜階段的組合，在測試和探測過程中具有充分的靈活性。該系統具有極好的可重復性,能夠以驚人的精度沿著設備的多個側面進行探測。定位系統的精確度允許在薄至0.10mm、長至12mm的矽片上探測接觸點。通過調整Z軸和旋轉軸來考慮基板參數的變化。為了最大限度地提高精度和效率,APT 8400CJ可以一致地捕獲零件或設備的參數。各種單獨操作的探頭用於多探頭測試，每個探頭都可以有可單獨調節的功率輸出。此外,探針可以快速更改,從而減少了測試過程。在一個強大的電機驅動之上，prober提供精密的電子控制操作，可以最大限度地提高穩定性和效率。APT 8400 CJ配備獨立的測量元件和先進的微處理，為測試精度提供了穩健的參數設置。測量估計探針和設備樣品之間的接觸，而數據分析，包括電流和電壓定時的計算，確保了最佳測試結果。總而言之，TAKAYA APT 8400CJ prober是中小型半導體器件探測的理想多合一解決方案。它具有全自動化、集成顯微鏡系統、先進的電機驅動器和獨立的測量組件,可確保對細小零件進行準確、高效的探測。