二手 TEKTRONIX TCPA 300 #9170317 待售

TEKTRONIX TCPA 300是為高級晶圓探測應用和集成電路測試而設計的高性能prober。它提供模塊化設計,允許用戶自定義其prober配置,以實現最高的性能和效率。該設備采用集成的計算機控制、高分辨率晶圓對準系統和提高探頭精度的精密測試頭。TCPA 300為從小幾何探測到大規模微電子封裝測試的應用提供了卓越的性能和操作靈活性。Prober具有模塊化、可配置的設計,允許用戶根據其特定測試需求定制其功能。TEKTRONIX TCPA 300的主要部件包括運動控制單元、精密測試頭、紅外視覺機和高扭矩晶圓定位執行器。運動控制工具由一個數字伺服放大器和一個多軸伺服控制器組成，為用戶提供精確控制prober的運動和設置。還支持多軸掃描和探測,允許用戶從一個指定位置快速移動到另一個指定位置。Prober的精密測試頭的最小探頭螺距為0.22mm,確保了小幾何結構的精度。頭部還支持各種不同的探測技巧，允許用戶自定義其設置以滿足其特定的探測需求。資產還包括一個高扭矩晶片定位執行器，確保晶片在測試頭下方的定位一致。TCPA 300采用集成的全彩色紅外視覺模型,可增強設備的整體性能。IR視覺系統允許用戶準確識別探測位置，定義不同測試模式之間的邊界，以及檢測跳過和未對準的站點以改進測試結果。總的來說，TEKTRONIX TCPA 300是一個強大的PROB，為先進的晶圓探測應用和集成電路測試提供了卓越的性能和精度。它具有模塊化設計、高分辨率晶片對準單元和最高探針精度的精密測試頭。該機還包括高扭矩晶圓定位執行器、數字伺服放大器和控制器，以及全彩色紅外視覺工具，用於提高性能和增強測試結果。