二手 TEL / TOKYO ELECTRON 20SR #9132504 待售

TEL/TOKYO ELECTRON 20SR是一種專業的半導體測試和器件評估的載體。該設備同時使用阻抗和電容測量來測量和評估各種半導體材料和組件。它用於測量任何給定組件的設備結構、接口或接觸特性。該prober也可用於測量晶體管、MOSFET、CMOS和其他半導體器件的性能。TEL 20SR prober使用先進的高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM）來生成設備表面的3維圖像。它還使用復雜的軟件來分析生成的圖像。該系統可以檢測和測量表面的不規則性，如顛簸、空隙和裂紋，以及測量晶粒大小和晶粒取向等特征的分布。TOKYO ELECTRON 20 SR可以檢測和評估小顆粒、汙染物、冶金結構和晶體缺陷。該單元配備了最先進的計量功能，包括激光表面計量。這樣可以精確地測量設備結構、表面或接觸特性。該機器還有一個自動計量工具，用於評估各種設備。這樣,無需手動設置測量,就可以更輕松高效地評估設備的物理特性。對於電特性的測量，TEL/TOKYO ELECTRON 20 SR有阻抗參數分析儀。它能夠分析設備在不同頻率下的阻抗。它還可以測量設備或絕緣層的電容，精度小於1皮法拉。這個資產有一個高度敏感的電壓表，範圍高達4.5伏。TOKYO ELECTRON 20SR可以在高達300 °C的溫度下工作。它的樣品溫度控制遊俠可以設置到500 °C，允許進行高溫測量和測試。該模型還提供各種自動化功能,例如掃描列表編輯器,可用於創建和存儲可重復的測試序列。綜上所述，TEL 20 SR是一種通用、準確的半導體測試和器件評估技術。它使用先進的高分辨率掃描電子顯微鏡和復雜的軟件來分析產生的圖像。它具有多種計量特性，包括激光表面計量，用於測量設備結構、表面或接觸特性。它還具有用於測試電氣特性的阻抗參數分析儀，以及用於高效設備測試和評估的自動化功能。